手持(chi)式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)采用(yong)了半(ban)導(dao)體激(ji)光(guang)光(guang)源，液(ye)晶屏(ping)大(da)屏(ping)幕顯(xian)示(shi)，檢測(ce)精度高、功(gong)能(neng)操作(zuo)簡單明(ming)了(le)，微處理(li)器控(kong)制(zhi)，可(ke)貯存、打印(yin)測(ce)量結(jie)果，測(ce)試(shi)潔凈(jing)環境十(shi)分(fen)便(bian)利。

手持(chi)式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)優質(zhi)供(gong)應商(shang)註(zhu)意事項：

1、當(dang)入(ru)口(kou)管(guan)被蓋住或被堵(du)塞，不要啟(qi)動(dong)計數儀(yi)
2、激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)應該在潔凈(jing)環境下(xia)使(shi)用，以(yi)防止(zhi)對(dui)激(ji)光(guang)傳(chuan)感(gan)器(qi)的(de)損(sun)傷
3、不要測(ce)有(you)可(ke)能(neng)產生反應的(de)混(hun)合(he)氣(qi)體（如氫(qing)氣(qi)和(he)氧(yang)氣(qi)）。這(zhe)此(ci)氣(qi)體也可能(neng)在計數器(qi)內(nei)產生爆炸(zha)。測(ce)這(zhe)些氣(qi)體需與(yu)廠家(jia)為取得更多的(de)信息(xi)。
4、沒有(you)高(gao)壓(ya)減壓(ya)設備（如高(gao)壓(ya)擴(kuo)散(san)器）不要取樣壓(ya)縮空(kong)氣(qi)，所(suo)有(you)的(de)顆粒(li)計(ji)數儀(yi)被(bei)設計用(yong)於(yu)在壹個(ge)大(da)氣(qi)壓(ya)下操(cao)作(zuo)。
5、水(shui)，溶液(ye)或其(qi)它(ta)液(ye)體都(dou)不(bu)能(neng)從入口(kou)管(guan)進(jin)入傳(chuan)感(gan)器。
6、顆粒(li)計(ji)數儀(yi)主要用(yong)來(lai)測(ce)試(shi)凈化車(che)間(jian)幹(gan)凈的(de)環境，當(dang)測(ce)的(de)地方有(you)松(song)散(san)顆粒(li)的(de)材質(zhi)，灰(hui)塵源，噴霧(wu)處時(shi)，須zui少(shao)保(bao)持(chi)距進(jin)口(kou)管(guan)至(zhi)少十二英(ying)寸(cun)遠。以(yi)免(mian)以(yi)上的(de)顆粒(li)及(ji)液(ye)體汙染(ran)傳(chuan)感(gan)器(qi)及(ji)管(guan)路。
7、取樣時(shi)，僻(pi)免(mian)取樣從計(ji)數器(qi)本身排出(chu)來(lai)的(de)或被計(ji)數器(qi)出來(lai)的(de)氣體所汙染(ran)的(de)氣體。
8、在連接(jie)外(wai)置(zhi)打印(yin)機(ji)或連接(jie)外(wai)接(jie)溫濕度傳感(gan)器時(shi)，需(xu)先(xian)關掉計數器(qi)；當(dang)執(zhi)行打印(yin)操(cao)作(zuo)時(shi)，打印(yin)機(ji)上須有(you)打印(yin)紙(zhi)，否則會(hui)損(sun)傷打印(yin)頭。

手持(chi)式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)優質(zhi)供(gong)應商(shang)技術參(can)數：

手持(chi)式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)優質(zhi)供(gong)應商(shang)工(gong)作(zuo)原理(li)
    激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)基本原(yuan)理(li)是光(guang)學傳(chuan)感器的(de)探(tan)測(ce)激(ji)光(guang)經(jing)塵(chen)埃(ai)粒(li)子散(san)射後被光敏(min)元(yuan)件(jian)接(jie)收並(bing)產生脈(mai)沖(chong)信號(hao)，該脈(mai)沖(chong)信號(hao)被輸(shu)出並(bing)放(fang)大(da)，然(ran)後進(jin)行數字(zi)信(xin)號(hao)處理(li)，通(tong)過(guo)與(yu)標(biao)準粒(li)子信號進(jin)行比(bi)較，將對比(bi)結(jie)果用(yong)不(bu)同的(de)參(can)數表示(shi)出來(lai)。空氣(qi)中(zhong)的(de)微粒(li)在光的(de)照射下會(hui)發生(sheng)散(san)射，這(zhe)種現象叫(jiao)光散(san)射。光散(san)射和(he)微粒大(da)小(xiao)、光波波(bo)長(chang)、微粒(li)折射率(lv)及微(wei)粒(li)對(dui)光的(de)吸(xi)收特(te)性等因素有(you)關。但是就散(san)射光強度和(he)微粒大(da)小(xiao)而言，有(you)壹(yi)個(ge)基本規(gui)律(lv)，就是微(wei)粒(li)散(san)射光的(de)強度隨微(wei)粒的(de)表面(mian)積(ji)增加(jia)而增大(da)。這(zhe)樣只要測(ce)定散(san)射光的(de)強度就可推(tui)知(zhi)微粒的(de)大(da)小(xiao)，實際上，每個(ge)粒子產生的(de)散(san)射光強度很弱(ruo)，是壹(yi)個(ge)很小的(de)光脈(mai)沖(chong)，需要通(tong)過(guo)光(guang)電轉換器(qi)的(de)放大(da)作(zuo)用，把光(guang)脈(mai)沖(chong)轉化為(wei)信(xin)號(hao)幅(fu)度較大(da)的(de)電脈(mai)沖(chong)，然後(hou)再經(jing)過電(dian)子線(xian)路(lu)的(de)進(jin)壹步(bu)放(fang)大(da)和(he)甄別，從(cong)而完(wan)成(cheng)對大(da)量(liang)電脈(mai)沖(chong)的(de)計數工(gong)作(zuo)。此(ci)時(shi)，電(dian)脈(mai)沖(chong)數量(liang)對應(ying)於微(wei)粒的(de)個(ge)數，電(dian)脈(mai)沖(chong)的(de)幅(fu)度對應(ying)於微(wei)粒(li)的(de)大(da)小(xiao)。這(zhe)就是光(guang)散(san)射式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)的(de)基本原(yuan)理(li)。

手持(chi)式激(ji)光(guang)塵(chen)埃(ai)粒(li)子計數器(qi)優質(zhi)供(gong)應商(shang)性能(neng)：
可進(jin)行3通(tong)道(dao)測(ce)試(shi)（0.3 0.5 5.0μm）
測(ce)試(shi)報(bao)告符(fu)合(he)GB16292-1996 及(ji).ISO14644-1標(biao)準
內(nei)設延遲(chi)測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)，可(ke)自(zi)行設定，避(bi)免(mian)人(ren)為(wei)幹(gan)擾(rao)
如果(guo)使(shi)用梯(ti)級連(lian)接(jie)可(ke)以(yi)成(cheng)為壹個(ge)多點(dian)的(de)監測(ce)系統
采(cai)樣時(shi)間(jian)、采(cai)樣次數、間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)可(ke)自(zi)行任意設置